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    1. 18 2014-02

      變壓器掃描測試常見問題及解決方法
      1.上下限問題用戶在測試過程中發(fā)現(xiàn)待測變壓器某些測量值嚴(yán)重不合要求,但判斷表格中仍然顯示該參數(shù)合格。原因分析:用戶在該參數(shù)極限設(shè)置過程中設(shè)置了標(biāo)稱值(STD)但沒有設(shè)置上下限值或是上下限值只設(shè)置了一個(gè)。解決方案:在該參數(shù)極限設(shè)置菜單中設(shè)定上下限即可。2.不測量問題用戶在測試過程中發(fā)現(xiàn)待測變壓器某些參. . .
    2. 18 2014-02

      電容測試儀儀器開路校正
      電容測試儀儀器開路校正功能能消除與被測元件相并聯(lián)的雜散導(dǎo)納(G,B)造成的誤差。開路校正包括采用插入計(jì)算法的全頻開路校正和對所設(shè)定的頻率點(diǎn)進(jìn)行的單頻開路校正。特別注意:當(dāng)進(jìn)行開路校正時(shí)應(yīng)將測試夾具連接到電容測試儀儀器測試端。夾具開路,不連接到任何被測元件。按軟鍵ON,使開路校正有效,電容測試儀儀器將. . .
    3. 21 2014-04

      選擇合適的測試夾具的重要性
      選擇測試夾具,和選擇合適的測試設(shè)備一樣重要。Agilent提供了大量的配件,用于軸向,徑向和SMD/芯片器件的測試。此外,Agilent還提供了各種各樣的測試導(dǎo)線,用來簡化遠(yuǎn)程測試和應(yīng)用,以及帶有安全封裝的外置的測試夾具。合適的測試夾具,將從以下幾方面改善您的測試1.更具可靠性和可重復(fù)性2.更高的測. . .
    4. 21 2014-04

      LCR數(shù)字電橋常用測試夾具***
      有了LCR數(shù)字電橋,還需要選擇一款合適的測試夾具才能滿足您的測試需求。LCR數(shù)字電橋,顧名思義是用來測試電阻,電容,電感的儀器,而每一種不同的元件封裝形式是不一樣的,比如:貼片的,插件的,軸向的,徑向的,低阻抗的,高阻抗的。下圖列出了常州致新適應(yīng)與LCR數(shù)字電橋的常用***夾具。. . .
    5. 21 2014-04

      熱敏電阻的工作原理及測量
      熱敏電阻將長期處于不動作狀態(tài);當(dāng)環(huán)境溫度和電流處于c區(qū)時(shí),熱敏電阻的散熱功率與發(fā)熱功率接近,因而可能動作也可能不動作。熱敏電阻在環(huán)境溫度相同時(shí),動作時(shí)間隨著電流的增加而急劇縮短;熱敏電阻在環(huán)境溫度相對較高時(shí)具有更短的動作時(shí)間和較小的維持電流及動作電流。1、ptc效應(yīng)是一種材料具有ptc(positi. . .
    6. 21 2014-04

      用濾波器測試儀測試共模電感的優(yōu)勢
      共模電感(CommonmodeChoke),也叫共模扼流圈,常用于電腦的開關(guān)電源中過濾共模的電磁干擾信號。在板卡設(shè)計(jì)中,共模電感也是起EMI濾波的作用,用于抑制高速信號線產(chǎn)生的電磁波向外輻射發(fā)射。共模電感實(shí)質(zhì)上是一個(gè)雙向?yàn)V波器:一方面要濾除信號線上共模電磁干擾,另一方面又要抑制本身不向外發(fā)出電磁干擾. . .
    7. 21 2014-04

      LCR數(shù)字電橋測試信號檢測功能的巧妙應(yīng)用
      使用LCR數(shù)字電橋測量有些電感和陶瓷電容時(shí),了解施加于被測件2端的電平是十分重要的。實(shí)際施加于被測件上的電平(電壓或電流)與LCR數(shù)字電橋信號源內(nèi)阻,被測件阻抗,頻率,電壓都有關(guān),雖然用戶設(shè)置的電平相同,若信號源阻抗不同,實(shí)際施加于被測件上的電平就不同。如何知道加在被測件上的實(shí)際電壓和電流呢?致新精. . .
    8. 21 2014-04

      直流電阻測試儀如何正確清零
      在使用小量程(比如20mΩ和200mΩ)時(shí),為保證直流電阻測試儀測試精度,必須正確清零。由于直流電阻測試儀儀器采用了四端測量法,所以使用者在清零時(shí),一定要使直流電阻測試儀儀器的Hucr端和Lcur端直接接觸,Hpot端與Lpot端直接接觸。具體地說:使兩個(gè)測試夾有引出測試線的兩金屬片直接接觸,無引出. . .
    9. 21 2014-04

      電容測試儀儀器開路校正
      電容測試儀儀器開路校正功能能消除與被測元件相并聯(lián)的雜散導(dǎo)納(G,B)造成的誤差。開路校正包括采用插入計(jì)算法的全頻開路校正和對所設(shè)定的頻率點(diǎn)進(jìn)行的單頻開路校正。特別注意:當(dāng)進(jìn)行開路校正時(shí)應(yīng)將測試夾具連接到電容測試儀儀器測試端。夾具開路,不連接到任何被測元件。按軟鍵ON,使開路校正有效,電容測試儀儀器將. . .
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