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產(chǎn)品直通車

— 專注于測(cè)量與測(cè)試 —

脈沖式線圈測(cè)試儀

ZX8816低感量脈沖線圈測(cè)試

產(chǎn)品簡(jiǎn)介： ZX8816擁有1000Vdc脈沖電壓與200MHz高速采樣率，可測(cè)試0.1uH~100uH范圍感量產(chǎn)品，具有波形面積比較、波形面積差比較、波形顫動(dòng)偵測(cè)、波形二次微分偵測(cè)、波峰降比偵測(cè)及自諧振共振波面. . .

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0519-86585866

簡(jiǎn)要說(shuō)明 / INSTRUCTIONS

ZX8816擁有1000Vdc脈沖電壓與200MHz高速采樣率，可測(cè)試0.1uH~100uH范圍感量產(chǎn)品，具有波形面積比較、波形面積差比較、波形顫動(dòng)偵測(cè)、波形二次微分偵測(cè)、波峰降比偵測(cè)及自諧振共振波面積比等判定功能，可有效檢測(cè)線圈自體絕緣不良，能滿足大部分功率電感測(cè)試需求。

性能特點(diǎn) / PERFORMANCE

脈沖電壓范圍 10V ~ 1000V，0.25V測(cè)量解析度

高速采樣測(cè)試，***快18ms

具有接觸檢查功能

自動(dòng)電感測(cè)試檔位選擇功能

四端測(cè)量功能，施加到電感上的電壓更準(zhǔn)確

具有電感差異電壓補(bǔ)償功能

脈沖測(cè)試高取樣率(200MHz), 10 bits

崩潰電壓分析功能(BDV)

中英文操作界面

U盤存儲(chǔ)振蕩波形功能

設(shè)置條件自動(dòng)保存，下次開機(jī)自動(dòng)調(diào)用

技術(shù)參數(shù) / PARAMETER

型號(hào)	ZX8816
基本參數(shù)
電壓峰值	10V ~ 1000V
測(cè)試電感范圍	0.1uH ~ 100 uH
電壓精度	±(1% *設(shè)定電壓 + 2.0 V)
采樣率	10bits, 200MHz
采樣檔位	8檔:0,1,2,3,4,5,6,7
脈沖數(shù)	測(cè)試脈沖數(shù)：1 ~ 32；激勵(lì)脈沖數(shù)：0 ~ 9
波形顯示范圍	512*256點(diǎn)
偵測(cè)模式	波形面積比較、波形面積差比較、波形顫動(dòng)偵測(cè)、波形二次微分偵測(cè)、波峰降比偵測(cè)及自諧振共振波面積比
測(cè)試速度	***快18ms(Pulse = 1.0,自體諧振關(guān)閉時(shí))
分選指示	合格/不合格報(bào)警(蜂鳴器和LED指示)
接口
接口	RS232, HANDLER接口
電源及尺寸
功耗	空載： < 150W 帶載： < 1000W
電源	100 ~ 240 VAC， 50/60 Hz
尺寸(WHD)	430mm* 180mm**500mm
重量	28 kg

企業(yè)優(yōu)勢(shì) / ADVANTAGE

用權(quán)威說(shuō)話
品質(zhì)保證值得信賴

以“工匠精神，讓測(cè)試更精準(zhǔn)”為理念，讓“致新精密”成為
測(cè)試測(cè)量領(lǐng)域用戶的優(yōu)選品牌

榮獲高新技術(shù)企業(yè)等各類認(rèn)證

注重創(chuàng)新放心選擇

擁有發(fā)明專利及多項(xiàng)實(shí)用新型專利

我們以“工匠精神，讓測(cè)試更精準(zhǔn)”為理念，堅(jiān)持產(chǎn)品的精益求精，持續(xù)為客戶創(chuàng)造價(jià)值，不斷努力，讓“致新精密”成為測(cè)試測(cè)量領(lǐng)域用戶的優(yōu)選品牌。

訂購(gòu)信息 / ORDER

ZX8816: 小電感脈沖線圈測(cè)試儀

主要附件 / ENCLOSURE

主要測(cè)試原理

電感脈沖線圈測(cè)試儀是在不損壞被測(cè)件的條件下測(cè)試其電氣性能。儀器能在短暫的瞬間判別線圈的品質(zhì)。測(cè)量時(shí)將與標(biāo)準(zhǔn)線圈測(cè)試時(shí)同樣的脈沖通過(guò)電容器放電施加于被測(cè)線圈，由于線圈電感量和Q致的存在，將響應(yīng)一個(gè)對(duì)應(yīng)與該放電脈沖的電壓衰減波形。比較該衰減波形的某些特征，可以檢測(cè)線圈匝間和層間短路及圈數(shù)和磁性材料的差異，通過(guò)施加一個(gè)高壓脈沖，根據(jù)波形出現(xiàn)的顫動(dòng)量和二次微分來(lái)判斷被測(cè)電感是否存在絕緣不良。

Vo: 儀器內(nèi)部電壓

Ri: 儀器內(nèi)部電阻

Ci：儀器內(nèi)部電容

Cc: 儀器內(nèi)部諧振電容

Cw: 繞線元件的雜散/寄生電容

R: 繞線元件的等效并聯(lián)電阻

Rp檢測(cè)

脈沖測(cè)試時(shí)，將開關(guān)SW閉合，電容器放電施加電壓于被測(cè)線圈。脈沖測(cè)試結(jié)束后，將開關(guān)SW開路，此時(shí)儀器檢測(cè)自體諧振波形。儀器通過(guò)比較自體諧振波形中***個(gè)正向波峰的峰值與第二個(gè)正向波峰的峰值的衰減速度及比例差異來(lái)檢測(cè)出異常產(chǎn)品。波峰比的值越大表示Rp的值也越大，相對(duì)的Q值也會(huì)比較高。

波形判定模式

1. 波形面積比較(Area Size)

在任意指定的A~B區(qū)間內(nèi)對(duì)被測(cè)線圈測(cè)試波形面積進(jìn)行積分，并與標(biāo)準(zhǔn)波形在此區(qū)間內(nèi)的面積進(jìn)行比較，用這兩個(gè)波形面積的差異值與標(biāo)準(zhǔn)波形在此區(qū)間的面積的百分比作為判定依據(jù)，判定基準(zhǔn)用百分比來(lái)設(shè)定。

波形面積近似的與能量損失成正比，所以可以使用面積比較方法來(lái)判斷線圈中的能量損耗，有效的檢測(cè)線圈層間和匝間短路。

2. 波形面積差比較(Differential Area)

在任意指定A~B 區(qū)間內(nèi)對(duì)被測(cè)線圈測(cè)試波形和標(biāo)準(zhǔn)波形的Y 軸方向的差異值進(jìn)行計(jì)算(積分計(jì)算的結(jié)果為A~B 區(qū)間內(nèi)的陰影部分)和標(biāo)準(zhǔn)波形在此區(qū)間的面積比較，基準(zhǔn)用百分比來(lái)設(shè)定。

3. 波形顫動(dòng)檢測(cè)(Flutter Detection)

在任意指定A~B 區(qū)間內(nèi)對(duì)波形進(jìn)行一階微分，計(jì)算出波形的總放電量，再與標(biāo)準(zhǔn)波形的總放電量進(jìn)行比較

4. 波形放電量二次微分檢測(cè)(Laplacian Value)

在任意指定A~B 區(qū)間內(nèi)對(duì)波形進(jìn)行二階微分，與標(biāo)準(zhǔn)波形對(duì)應(yīng)區(qū)間內(nèi)的二次微分進(jìn)行比較，可以檢測(cè)出因電氣放電或電極焊接不良引起波形快速變化的現(xiàn)象。

5. 波峰比檢測(cè)(Peak Ratio)

在崩潰電壓分析(BDV)模式下，用待測(cè)物自體諧振波形的第二個(gè)正向波峰的峰值與***個(gè)正向波峰的峰值計(jì)算波峰比。利用波峰比可評(píng)價(jià)被測(cè)件是否過(guò)度劣化。

6. 波峰降比檢測(cè)(△Peak Ratio)

在脈沖測(cè)試(IWT)模式下，將被測(cè)物自體諧振波形的第二個(gè)正向波峰的峰值與***個(gè)正向波峰的峰值計(jì)算波峰比，并將該波峰比與標(biāo)準(zhǔn)品的波峰比進(jìn)行比較。如果被測(cè)件與樣品的波峰比相同，則△Peak Ratio將會(huì)等于0%。△Peak Ratio為被測(cè)件與標(biāo)準(zhǔn)品的波峰比差所占樣品的波峰下降比的比例。公式如下：

波峰差異比是并聯(lián)電阻所造成能量衰減的差異，所以可以利用波峰差異比來(lái)判定并聯(lián)電阻Rp是否異常。

7. 共振面積比較(△Resonant Area)

在脈沖測(cè)試(IWT)模式下，開關(guān)SW1斷開后，被測(cè)件所產(chǎn)生的自體諧振波形與標(biāo)準(zhǔn)樣品的自體諧振波形總面積進(jìn)行比較。如果待測(cè)物的線圈絕緣與標(biāo)準(zhǔn)品接近，則共振面積應(yīng)該與標(biāo)準(zhǔn)品面積接近；如果待測(cè)物的線圈絕緣不良，則共振波形會(huì)快速衰減，共振面積也會(huì)相對(duì)較小。

應(yīng)用領(lǐng)域 / APPLICATION

低感量線圈

貼片功率電感

AI GPU顯卡功率電感測(cè)試

T-CORE+熱壓大電流一體成型電感

應(yīng)用案例 / CASES

1. 手工測(cè)試

本儀器不僅能測(cè)試小到0.1uH的電感，還可測(cè)試高達(dá)100uH的電感。相當(dāng)于單臺(tái)匝間測(cè)試儀器就可以測(cè)量低感量和較高感量的電感匝間脈沖測(cè)試。電感產(chǎn)品開發(fā)設(shè)計(jì)階段可用該儀器進(jìn)行產(chǎn)品性能評(píng)估。

2. 自動(dòng)化測(cè)試

本儀器采用高速測(cè)量功能，測(cè)試速度可達(dá)18ms，同時(shí)采用雙同軸四線測(cè)量方式降低測(cè)試線長(zhǎng)度的影響，可直接在匝間測(cè)試自動(dòng)機(jī)上應(yīng)用，為客戶自動(dòng)化生產(chǎn)降本增效。

3. 崩潰電壓分析BDV

本儀器提供崩潰電壓分析功能，設(shè)定起始電壓與結(jié)束電壓及電壓上升比例，利用電壓上升過(guò)程波形面積比偵測(cè)、二次微分偵測(cè)及波峰比偵測(cè)來(lái)判定被測(cè)件的測(cè)試值是否超過(guò)設(shè)定值，測(cè)試出線圈可承受耐電壓的強(qiáng)度。根據(jù)這些功能，研究人員可以對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行分析與研究，針對(duì)線圈較弱的地方做改善。

其他信息 / OTHERS

特色技術(shù)

1. 四端測(cè)量技術(shù)

傳統(tǒng)的脈沖線圈匝間測(cè)試儀電壓檢測(cè)模塊檢測(cè)的是被測(cè)件與測(cè)試線上的電壓，而對(duì)于低電感被測(cè)物，測(cè)得的電壓值與實(shí)際被測(cè)物上的值有很大差異。為了解決施加電壓與被測(cè)物電壓的差異，本儀器采用了四端測(cè)量技術(shù)，減少了實(shí)測(cè)電壓值與被測(cè)物上實(shí)際電壓的差異，可達(dá)到理想的測(cè)試效果。

2. 接觸檢查

本儀器在高壓輸出前，先對(duì)測(cè)試端進(jìn)行接觸檢查，檢測(cè)測(cè)試端是否夾有合適的電感。只有檢測(cè)到合適的電感，儀器才輸出高壓。這樣可以避免因接觸不良或開路使得內(nèi)部以***大電壓輸出造成治具端探針打火，進(jìn)而導(dǎo)致待測(cè)物收到損傷。這樣做可以延長(zhǎng)探針使用壽命。

另外，本儀器可以測(cè)量被測(cè)物的電感值，可以剔除掉被測(cè)物電感值與標(biāo)準(zhǔn)件電感值差異較大的電感。

3. 電感自動(dòng)量程

開始測(cè)試時(shí)，本儀器先進(jìn)行電感測(cè)量，根據(jù)測(cè)得的電感值自動(dòng)選擇合適的電感量程，使得被測(cè)電感在適當(dāng)?shù)牟ㄐ蜗逻M(jìn)行對(duì)比測(cè)試。本測(cè)試儀可測(cè)試0.1uH~100uH的電感，可以滿足較小電感的匝間測(cè)試需求，也可以覆蓋大部分的較大電感的匝間測(cè)試需求。

4. 電壓補(bǔ)償功能

在針對(duì)感量較大的電感進(jìn)行測(cè)試時(shí)，測(cè)試線的等效感量相對(duì)較小，但在測(cè)量低感量時(shí)，低感量待測(cè)物(如0.5uH)會(huì)因測(cè)試線等效感量會(huì)影響被測(cè)物上實(shí)際電壓。過(guò)高的測(cè)試線阻抗會(huì)使得低感量測(cè)試時(shí)電壓分壓在測(cè)試線上，導(dǎo)致被測(cè)物上的電壓低于設(shè)定值而無(wú)法有效檢測(cè)出不良品。同時(shí)，根據(jù)通用的電感產(chǎn)品的規(guī)格書，電感值的***高誤差可達(dá)正負(fù)30%，因此在低感量測(cè)試應(yīng)用時(shí)，會(huì)因待測(cè)物感量變化而造成電感兩端電壓差異更加明顯，導(dǎo)致波形面積判定失效或測(cè)試電壓未達(dá)到測(cè)試要求的電壓。因此，本儀器提供電壓補(bǔ)償功能，降低因感量差異造成電感上實(shí)際電壓的差異，從而降低誤判的可能性。